2018_2019学年高中物理第六章万有引力与航天课时自测•基础达标6.1行星的运动新人教版必修220190222529.doc

上传人:bowdiet140 文档编号:954305 上传时间:2019-03-09 格式:DOC 页数:2 大小:88KB
下载 相关 举报
2018_2019学年高中物理第六章万有引力与航天课时自测•基础达标6.1行星的运动新人教版必修220190222529.doc_第1页
第1页 / 共2页
2018_2019学年高中物理第六章万有引力与航天课时自测•基础达标6.1行星的运动新人教版必修220190222529.doc_第2页
第2页 / 共2页
亲,该文档总共2页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、16.1 行星的运动课时自测基础达标1.关于日心说被人们所接受的原因,下列说法正确的是 ( )A.以地球为中心来研究天体的运动有很多无法解决的问题B.以太阳为中心,许多问题都可以解决,行星运动的描述也变得简单了C.地球是围绕太阳旋转的D.太阳总是从东面升起,从西面落下【解析】选 B。托勒密的地心学说可以解释行星的逆行问题,但非常复杂,缺少简洁性,而简洁性正是当时人们所追求的,哥白尼的日心说之所以能被当时人们所接受,正是因为这一点。要结合当时历史事实来判断,故选项 B 正确。2.(多选)下列说法中正确的是 ( )A.太阳系中的八大行星有一个共同的轨道焦点B.太阳系中的八大行星的轨道有的是圆形,并

2、不都是椭圆C.行星的运动方向总是沿着轨道的切线方向D.行星的运动方向总是与它和太阳的连线垂直【解析】选 A、C。太阳系中的八大行星绕太阳运动的轨道都是椭圆,而太阳位于八大行星椭圆轨道的一个公共焦点上,选项 A 正确,B 错误;行星的运动是曲线运动,运动方向总是沿着轨道的切线方向,选项 C 正确;行星从近日点向远日点运动时,行星的运动方向和它与太阳连线的夹角大于 90,行星从远日点向近日点运动时,行星的运动方向和它与太阳连线的夹角小于 90,选项 D 错误。3.太阳系有八大行星,八大行星离地球的远近不同,绕太阳运转的周期也不相同。下列反映公转周期与行星轨道半长轴的关系图象中正确的是 ( )2【解析】选 D。由 =k 知 r3=kT2,D 项正确。324.(2014浙江高考)长期以来“卡戎星(Charon)”被认为是冥王星唯一的卫星,它的公转轨道半径 r1=19 600 km,公转周期 T1=6.39 天。2006 年 3 月,天文学家新发现两颗冥王星的小卫星,其中一颗的公转轨道半径 r2=48 000 km,则它的公转周期 T2最接近于 ( )A.15 天 B.25 天 C.35 天 D.45 天【解析】选 B。由开普勒第三定律 = 可知 T2=6.39 天24.5 天,B3222 (48 00019 600)3项正确。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • BS EN 60747-16-1-2002+A1-2007 Semiconductor ndevices — nPart 16-1 Microwave integrated ncircuits — Amplifiers《半导体器件 微波集成电路 放大器》.pdf BS EN 60747-16-1-2002+A1-2007 Semiconductor ndevices — nPart 16-1 Microwave integrated ncircuits — Amplifiers《半导体器件 微波集成电路 放大器》.pdf
  • BS EN 60747-16-10-2004 Semiconductor devices - Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits《半导体器件 单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)》.pdf BS EN 60747-16-10-2004 Semiconductor devices - Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits《半导体器件 单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)》.pdf
  • BS EN 60747-16-5-2013 Semiconductor devices Microwave integrated circuits Oscillators《半导体装置 微波集成电路 振荡器》.pdf BS EN 60747-16-5-2013 Semiconductor devices Microwave integrated circuits Oscillators《半导体装置 微波集成电路 振荡器》.pdf
  • BS EN 60747-5-1-2001 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices - General《半导体分立器件和集成电路 光电器件 总则》.pdf BS EN 60747-5-1-2001 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices - General《半导体分立器件和集成电路 光电器件 总则》.pdf
  • BS EN 60747-5-5-2011 Semiconductor devices Discrete devices Optoelectronic devices Photocouplers《半导体器件 分立器件 光电器件 光电耦合器》.pdf BS EN 60747-5-5-2011 Semiconductor devices Discrete devices Optoelectronic devices Photocouplers《半导体器件 分立器件 光电器件 光电耦合器》.pdf
  • BS EN 60749-1-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General《半导体器件 机械和气候试验方法 总则》.pdf BS EN 60749-1-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General《半导体器件 机械和气候试验方法 总则》.pdf
  • BS EN 60749-10-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Mechanical shock《半导体装置 机械和气候试验方法 机械振动》.pdf BS EN 60749-10-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Mechanical shock《半导体装置 机械和气候试验方法 机械振动》.pdf
  • BS EN 60749-11-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method《半导体装置 机械和气候试验方法 温度速变 双流体浸泡法》.pdf BS EN 60749-11-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method《半导体装置 机械和气候试验方法 温度速变 双流体浸泡法》.pdf
  • BS EN 60749-14-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Robustness of terminations (lead integrity)《半导体器件 机械和气候试验方法 端子的耐久性》.pdf BS EN 60749-14-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Robustness of terminations (lead integrity)《半导体器件 机械和气候试验方法 端子的耐久性》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 考试资料 > 中学考试

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1